Оборудование Просвечивающий электронный микроскоп JEOL 2000EX (Япония)
ОКОФ:
Год выпуска: 1986
Количество: 0
Основные характеристики приборов: Разрешаемые размеры зерен, частиц, элементов дислокационной структуры до 1 нм и менее.

Технические характеристики

Предназначен для исследования структуры металлов и сплавов, биологических объектов, исследования межфазных и межзеренных границ.
ИПСМ РАН
Уфа, Степана Халтурина, 39
+7(347)223-64-07
Заказать услуги/изделия на данном оборудовании
Еще по ОКОФ:


Главная
Все предприятия
Все оборудование
Вся продукция
Торговая площадка
- Куплю
- Продам
- Разместить заказ
- Исполнить заказ
- Совместное использование материала
- Совместное использование транспорта
- Неликвиды
- Совместные закупки
Каталоги
- Каталог ОКПД2
- Каталог ОКВЭД2
- Каталог ОКОФ
- Каталог ТНВЭД
Финансовая подержка
Новости
События
Статьи
Аналитика