Оборудование Растровый электронный микроскоп JEOL JSM 840 (Япония) с EBSD приставкой
ОКОФ:
Год выпуска: 1986
Количество: 0
Компактный многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики.

Технические характеристики

Компактный многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики. Данный микроскоп создан для удовлетворения запросов как самых взыскательных исследователей, так и инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Все возможности инструмента доступны даже начинающим пользователям. Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным.
ИПСМ РАН
Уфа, Степана Халтурина, 39
+7(347)223-64-07
Заказать услуги/изделия на данном оборудовании
Еще по ОКОФ:


Главная
Все предприятия
Все оборудование
Вся продукция
Торговая площадка
- Куплю
- Продам
- Разместить заказ
- Исполнить заказ
- Совместное использование материала
- Совместное использование транспорта
- Неликвиды
- Совместные закупки
Каталоги
- Каталог ОКПД2
- Каталог ОКВЭД2
- Каталог ОКОФ
- Каталог ТНВЭД
Финансовая подержка
Новости
События
Статьи
Аналитика