ОКОФ:
Год выпуска: 1988
Количество: 0
Основные характеристики приборов: Точность определения количества фазы до 3%, измерения межплоскостных расстояний ∼(1-3) 10-4%
Технические характеристики
Предназначен для широкого круга рентгеноструктурных исследований различных образцов: исследования общего характера (качественный и количественный фазовый анализ, исследования твёрдых растворов, определение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и другое); получение полного набора интегральных интенсивностей отражений от монокристаллов; определение ориентации срезов монокристалловисследование текстуры